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Reitoria (REIT)
CIÊNCIAVITAE(em fase de teste)
Estimating the uncertainties of strain and damage analysis by X-ray diffraction in ion implanted MoO3
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Publicação
Estimating the uncertainties of strain and damage analysis by X-ray diffraction in ion implanted MoO3
2020-09
Artigo científico
Desconhecido
http://hdl.handle.net/10451/49097
Utilize este identificador para referenciar este registo.
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Autores
Pereira, D.R.
Magalhães, S.
Díaz-Guerra, C.
Peres, M.
Correia, J.G.
Marques, J.G.
Silva, A.G.
et al.
Orientador(es)
Resumo(s)
Descrição
Palavras-chave
URI
http://hdl.handle.net/10451/49097
Contexto Educativo
Citação
Projetos de investigação
NAno-engineering of wide bandgap Semiconductors using Ion Beams
Projeto de investigação
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Unidades organizacionais
Fascículo
Editora
DOI
10.1016/j.nimb.2020.07.016
Coleções
CIÊNCIAVITAE(em fase de teste)
Licença CC
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