Silva, OSerrano, RGomes, ET2015-12-302015-12-302005PROCEEDINGShttp://hdl.handle.net/10451/22224FCT - Fundação para a Ciência e a Tecnologia. - Programa de Financiamento Plurianual das Unidades de ID da Fundação para a Ciência e a Tecnologiaapplication/pdfengScanning electron microscopy analysis of Guiera senegalensis, levaesjournal article