Percorrer por autor Maia Alves, J.
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| Data | Título | Autor(es) | Tipo | Acesso |
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| 2005 | Measurement of residual stress in multicrystalline silicon ribbons by a self-calibrating infrared photoelastic method | Brito, M. C.; Pereira, J. P.; Maia Alves, J.; Serra, J. M.; Vallêra, A. M. | article |  |
